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CURSO PRINCIPIOS DE METROLOGIA PARA LABORATORIOS

Objetivo.

Comprender los principios de la metrología y sus aplicaciones en los laboratorios analíticos.
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Descripción

1. Introducción al sistema internacional de unidades (SI)
– Historia del SI
– Magnitudes principales
– Unidades
– Magnitudes secundarias
– Prefijos y sufijos

2. El Sistema Legal de Unidades de Medida del Perú (SLUMP) –Ley N.° 23560
– Uso de las tablas
– Uso de símbolos
– Definiciones de unidades
– Separación de cantidades

3. Conceptos fundamentales del VIM
– ¿Qué es el VIM?
– Magnitud
– Magnitud Base
– Sistema Internacional de Magnitudes
– Dimensión de una magnitud
– Magnitud adimensional
– Sistema Internacional de Unidades
– Múltiplos y submúltiplos de unidades
– Valor de una magnitud
– Medición
– Metrología
– Mensurando
– Principio de medida
– Método de medida
– Procedimiento de medida: de referencia y primario
– Resultado de medida
– Valor verdadero de una magnitud
– Exactitud de medida
– Precisión de medida
– Precisión de medida
– Error sistemático de medida
– Sesgo de medida
– Incertidumbre de medida
– Calibración
– Trazabilidad metrológica
– Verificación
– Corrección
– Instrumento de medida
– Sensor
– Detector

4. Patrones de referencia
– Patrones de referencia
– Longitud, masa, tiempo, cantidad de materia, Intensidad de corriente, Intensidad Luminosa, Temperatura
– La Dirección de Metrologia del INACAL como organismo nacional de calibración
– Calibradores de tercera parte o externos
– La acreditación bajo la norma ISO 17025
– Alcances de acreditación
– Reconocimientos internacionales con INACAL
– Proveedores internacionales de calibración

5. Calibración de Instrumentos
– Clases de exactitud
– Error máximo permitido
– Patrones de medida
– Patrones de medidas

6. Uso de materiales de referencia
– ¿Qué es un material de referencia?
– Tipos de materiales de referencia
– Curvas de calibración
– Coeficientes de correlación

7. Interpretación de certificados de calibración
– Contenido de un certificado de calibración
– Datos obligatorios
– Interpretación de las mediciones
– Tabla de comparación patrón vs dispositivo de medición
– Error máximo permitido
– Informe del procedimiento y resultado de calibración
– Determinación del estado metrológico del dispositivo