1. APQP (Planeación Avanzada De La Calidad Del Producto)
•Introducción a la Planeación de la Calidad del Producto y su relación con IATF 16949:2016
•Planeación y definición del programa
•Diseño y desarrollo del producto
•Diseño y desarrollo del proceso
•Validación del producto y proceso
•Retroalimentación, evaluación y acción correctiva

2. SPC (Control Estadístico De Procesos)
•Introducción al SPC y su relación con IATF 16949:2016
•Conceptos estadísticos básicos
•Enfoque de prevención y detección
•Medidas de tendencia central y dispersión
•Causas comunes y especiales
•Especificaciones del cliente vs Límites de Control
•Gráficas de Control para variables y atributos
•Capacidad del Proceso (Cp, Cpk, Pp, Ppk)
•Ejercicios de aplicación con el software estadístico Minitab 18

3. AMEF (Análisis Del Modo Y Efecto De Fallas Potenciales)
•Introducción al AMEF y su relación con IATF 16949:2016
•Mapeo de Procesos / Diagrama de Flujo de Procesos
•Tipos de AMEF
•Requisitos del AMEF de Proceso
•Elaboración del AMEF de Proceso
•Severidad, ocurrencia y detección
•Diferentes formas de Prioridad (NPR, SOD Y SD)
•Plan de Control
•Ejercicios de creación de un AMEFP y relación con plan de control

4. MSA (Análisis De Los Sistemas De Medición)
•Introducción al MSA y su relación con IATF 16949:2016
•Estabilidad, Linealidad, Sesgo (bias)
•Principales fuentes de variación de un sistema de medición
•Conceptos básicos de repetibilidad y reproducibilidad
•Método ANOVA
•Realizar estudio de Gage R&R
•Uso del software estadístico Minitab 18 para estudios R & R
•Interpretación de resultados de estudio R&R
•Análisis de un sistema de medición por atributos con Minitab 18

5. PPAP (Proceso De Aprobación De Partes Para Producción)
•Introducción al PPAP y su relación con IATF 16949:2016
•Corrida de producción significativa
•Los 18 requerimientos del PPAP
•notificaciones al cliente y niveles de PPAP
•Revisión de PSW
•Retención de registros y formatos sugeridos